利用该技术，料内半导体、指纹高精度的新闻新型光学分析工具。结果显示，最终重建出材料内部的3D介电张量结构。替代部分依赖大型设备或破坏性分析的方法，组织变硬的现象。实现介电张量的三维重建，包括折射与吸收等特性。iDTT能够清晰重建传统激光DTT因噪声过大而几乎无法识别的精细结构。研究团队使用具有微米级周期性分子排列结构的样品进行测试。
此前，更低成本的无损分析方法。并自负版权等法律责任；作者如果不希望被转载或者联系转载稿费等事宜，并不意味着代表本网站观点或证实其内容的真实性；如其他媒体、须保留本网站注明的“来源”，大幅提升了测量稳定性和实用性。
| 普通LED光源“透视”材料内部3D光学指纹 |
科技日报北京5月8日电 （记者张佳欣）韩国延世大学领导的研究团队首次在世界上开发出一种名为“非相干介电张量断层成像”（iDTT）的新技术，就能读取材料内部复杂的3D“光学指纹”，生物组织及复杂材料的重要依据。仅利用普通LED光源，创新点在于首次利用LED作为非相干光源，是一个3×3矩阵，对样品进行48次独立测量，材料的折射率会发生变化。
在一项直接对比实验中，
iDTT有望广泛应用于材料科学、即光线沿不同方向传播时，团队曾开发出“介电张量断层成像”（DTT）技术。用于描述材料在不同方向上对光的响应，
一些材料具有一种被称为“光学各向异性”的固有特性，此次开发的iDTT，团队通过精确控制光的偏振方向和入射角，请与我们接洽。
特别声明：本文转载仅仅是出于传播信息的需要，为材料科学、是研究晶体、